压敏电阻的缺点是易老化，大多数情况下P-N结过载时会造成短路且不可回转至正常状态。
在电冲击的反复多次作用下压敏电阻内的二极管元件被击穿，电阻体的低阻线性化逐步加剧，压敏电压越来越低，漏电流越来越大。
焦耳热使得MOV发热增加且集中流入薄弱点，薄弱点材料融化，压敏电阻原理，形成1kΩ左右的短路孔后，电源继续推动一个较大的电流灌入短路点。
对于外形较小的压敏电阻器，可将其放在桌子上，用表笔直接测量，压敏电阻规格，复测后，与标志不符的电阻器，一般不要选用。
ESD静电防护压敏电阻超低容量ESD压敏电阻主要应用于一些高速的信号传输接口的应用。
在消除静电的同时可以保证信号不失真，主要应用在USB2.0，USB3.0，IEEE1394、DVI以及高速以太网等高速数据传输端口中。
压敏电阻老化失效的原因
压敏电阻老化失效，压敏电阻型号，表现为漏电流增大，压敏电压显著下降，直至为零。
这种事故通常可以通过一个与压敏电阻串联的热熔接点来避免。
而暂态过电压*坏是指较强的暂态过电压使电阻体穿孔，导致更大的电流而高热起火。
压敏电阻在通过持续大电流后其自身的性能要退化，将压敏电阻与放电管并联起来，可以克服这一缺点。
在放电管尚未导通之前，压敏电阻就开始动作，对暂态过电压进行钳位，泄放大电流。
当放电管放电导通后.它将与压敏电阻进行并联分流，压敏电阻，减小了对压敏电阻的通流压力。
从而缩短了压敏电阻通大电流的时间，有助于减缓压敏电阻的性能退化。
额定能量E：额定能量是指压敏电阻能够承受规定波形的冲击电流冲击一次的能量。
额定功率平均功率Pm：指压敏电阻在室温下，连续承受多次冲击，且各次冲击之间间隔时间较短。
漏电流Il：给压敏电阻施加直流电压Udc时流过的电流，测量漏电流时，通常给压敏电阻加上Udc=0.83U1mA的电压。
一般要求静态漏电流Il≤20μA也有要求≤10μA的。
在冲击试验后或在高温条件下其变化率不超过一倍，即认为是稳定的。
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