膜厚测试仪-一六仪器(在线咨询)-淮安测厚仪

江苏一六仪器   X射线荧光镀层测厚仪

仪器简介

      XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。

    搭配微聚焦射线管和**的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。

    检测78种元素镀层·0.005um检出限·测量面积可达0.002mm2·深凹槽可达90mm。

     外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都没有难度，让操作人员轻松自如。

  线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

  镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

  手表、精密仪表制造行业

  钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

  汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

  卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

  电镀液的金属阳离子检测

一六仪器 **测厚仪 多道脉冲分析采集，**EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

**方式：

    1、移动平台：

       A、手动（普通和带精密滑轨移动）：装配设计不同精准移位从0.5mm-0.005mm不等，移动的灵动性差距也很大。

       B、电动（自动）：装配设计不同精准移位从0.2mm-0.002mm不等

但同样的手动或者自动，其**精准也相差很多。

     2、高度**：

         A、手动变焦和无变焦

         B、激光对焦和CCD识别对焦

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

选择Elite（一六仪器）X射线荧光镀层测厚仪理由：

   根据IPC规程，镀层分析仪，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu，因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，如果使用Au，Pd，Ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，淮安测厚仪，并且Pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，Elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的Au/Pd/Ni/Base标准片，不需要几种箔片叠加校正，可以确保镀层测量的准确性。

2、采用微聚焦X射线管，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行测量。

3、Elite（一六仪器）WinFTM专用软件，具有强大且界面友好、中英文切换，多可同时测量23层镀层，电镀测厚仪，24种元素，测量数据可直接以WORD格式或EXCEL格式输出、打印、保存。采用基本参数法（FP），有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。

4、 Elite（一六仪器）针对PCB（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的X射线荧光测厚仪（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。