膜厚测试仪-测厚仪-江苏一六仪器(查看)

一六仪器 **测厚仪 多道脉冲分析采集，**EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

这些方法中前五种是有损检测，测厚仪，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，镀层分析仪，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。采用无损方法既不*坏覆层也不*坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

一六仪器 **测厚仪 多道脉冲分析采集，**EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

 在我们的售前服务工作中，客户通常都会拿一些在其它机构或者仪器测量过的样品来与我们仪器进行测试结果对比，在确认双方仪器都是正常的情况下，会存在或多或少的差异，那么我们务必要把这个差异的来源分析给客户，我们在分析之前首先要给客户解说测试的基本原理，告知此仪器为对比分析测试仪器，膜厚测试仪，然后再谈误差来源，主要来源：

  1、标样：对比分析仪器是要求有越接近于需测试样品的标样，测试结果越接近实际厚度。确认双方有没有在标定和校正时使用标样？使用的是多少厚度的标样？

2、样品材料的详细信息：如Ni/Cu的样品，如果一家是按化学Ni测试，一家是按纯Ni测试；Au/Ni/Cu/PCB样品，一款仪器受Br干扰，一款仪器排除了Br干扰。

   3、测量位置、面积：确定在同一样品上测试的是否同一位置，因为样品在电镀时因电位差不同，各部位厚度是有差异的；确认两款仪器测量面积的大小有多少差异。

4、样品形状：测量的样品是否是两款仪器都可测量，或者放置位置是否合适，如突出面有无挡住设备接收。

江苏一六仪器 XTU系列 XTU-BL X荧光光谱仪

仪器规格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）

   样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）

   仪器重量 ：55kg

   供电电源 ：交流220±5V

   功率 ：330W

   环境温度：15℃-30℃

   环境相对湿度：<70%

EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的， 根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用，可以对样品进行微区成分分析。

常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离，产生若干电子-空穴对，其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对，经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器，并计数能谱中每个能带的脉冲数。

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