江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪
性能优势:
下照式设计:可以快速方便地**对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,电镀膜厚仪,可测试各微小的部件。
jie shou 器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。
EFP**算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、max值、min值、数据变动范围、CP、数据编号、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表直方图数据库存储功能
-系统安全监测功能Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师-任选软件统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书液体样品分析,如镀液中的金属元素含量材料鉴别和分类检测材料和合金元素分析检测。








一六仪器 **测厚仪 多道脉冲分析采集,**EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,膜厚测试仪,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
测试面积是测厚仪器的一项很重要的参数,主要由准直器控制组成,但也受其它条件限制:
1、受高压、光管限制,宿州测厚仪,因为需要这两装置提供足够荧光强度和聚焦。
2、受仪器结构限制,相同的准直器因安装的位置及与探测器的角度都影响测量面积,荧光测厚仪,同样是直径0.2mm准直器Thick800A测量面积达到直径0.4mm,EDX1800B测量面积达到直径0.5mm,CMI900测量面积达到0.3mm,而XTU-A面积可以达到0.218.


一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
工业X射线镀层厚度分析仪以其快速、无损、现场测量等优点,已在冶金、建材、地质、环保、商检、考古、**等领域得到迅速推广和应用。近几年来X射线荧光仪已在工业镀层及涂层厚度测量中应用越来越广泛。众所周知,产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品质量与性能相关的重要指标。实验表明使用同位素X射线荧光分析方法,能够满足工业镀层和涂层厚度的分析要求,并且具有无损、在线、简便快速、可实现自动控制等特点。





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