电镀膜厚仪-测厚仪-一六仪器(查看)

一六仪器-------镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

X射线测厚仪测量精度的影响因素

X射线源的衰减对于工厂现场的的标定过程中，随着使用时间的增加，灯管的曲线会发生变化，在同一电压下，随着使用灯管时间的递加，电镀膜厚仪，厚度偏差会越来越大，因此，X射线源的衰减，是影响测量精度的一个主要原因。除了正常使用过程中X射线源会出现衰减，在出现某些故障是，也会发生突发性的衰减，出现标准化通过不过，光谱测厚仪，反馈的电压与工厂现场标准电压相差巨大，发生这种情况，X射线测厚仪的测量精度肯定是不准确的。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。

我们**的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名**通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、**的解谱方法和EFP算法结合精准**及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。

涂层测厚仪操作规程有哪些

  我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，测厚仪，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：

一、维护及注意事项

  1. 应避免仪器及测头受到强烈震动；

  2. 避免仪器置于过于潮湿的环境中；

  3.  插拔测头时，应捏住活动外套沿轴线用力，不可旋转测头，以避 免损坏测头电缆芯线。

  4.  油、灰尘的附着会使测头线逐渐老化、断裂，使用后应清除缆线上的污垢。

  5.    当仪器出现非正常现象时，请不要拆卸或调节任何固定装配的零件，请交给厂家维修部门检测、维修。

一六仪器  国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统，专利独特聚焦和变距设计，多元EFP算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电镀测厚仪，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。

 测量注意事项：1.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

2.测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

3在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数

4.在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。