电镀膜厚仪-一六仪器1-盐城测厚仪

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法

适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法

适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法

目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。

4.电解测厚法

此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要*坏涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。

5.测厚法

此种仪器价格昂贵，适用于一些特殊场合。

江苏一六仪器  X射线荧光镀层测厚仪

      电镀液测量杯整套含两个测量杯，膜厚测试仪，可用于多品牌X-RAY测厚仪上使用，高纯元素本底提高测量精度和检出限。电镀液测试样品杯，严格控制了容量和溢出物的处理，用来测试溶液中金属离子的浓度；使用方便简捷，无污染。

测试膜，又名X射线荧光光谱仪样品薄膜，迈拉膜，盐城测厚仪，麦拉膜，XRF测试薄膜，XRF样品膜，样品薄膜，EDX薄膜，EDX样品薄膜，ROHS检测膜，光谱仪样品薄膜；是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在样本杯内的物质。专用样品薄膜是使用方便简捷，无污染的测试用样品薄膜，广泛应用于Elite、fischer、牛津、博曼、先锋、日立、天瑞等各种品牌的EDX/XRF光谱仪。

       江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们**的研发团队具备十年以上的从业经验，镀层膜厚仪，经与海内外多名**通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

       X荧光镀层测厚仪金属成分含量的测定

在包含某种元素1的样品中，照射一次X射线，就会产生元素1的荧光X射线，不过这个时候的荧光X射线的强度会随着样品中元素1的含量的变化而改变。元素1的含量多，荧光X射线的强度就会变强。注意到这一点，如果预先知道已知浓度样品的荧光X射线强度，就可以推算出样品中元素1的含量。采用定量分析的时候，电镀膜厚仪，可以在样品中加入高纯度的二氧化硅，作为参比样，并且掺量是已知的。这样可以间接知道其他组分的含量。