测厚仪-一六仪器有限公司-光谱分析仪

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X射线测厚仪测量精度的影响因素

X射线源的衰减对于工厂现场的的标定过程中，随着使用时间的增加，灯管的曲线会发生变化，在同一电压下，随着使用灯管时间的递加，厚度偏差会越来越大，因此，X射线源的衰减，是影响测量精度的一个主要原因。除了正常使用过程中X射线源会出现衰减，在出现某些故障是，也会发生突发性的衰减，出现标准化通过不过，镀层膜厚仪，反馈的电压与工厂现场标准电压相差巨大，光谱分析仪，发生这种情况，X射线测厚仪的测量精度肯定是不准确的。

江苏一六仪器   X荧光光谱测厚仪

应用领域：

线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

手表、精密仪表制造行业

钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeAIB

汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

X射线测厚仪的安全问题：

其实从科学的角度分析，测厚仪，20Kv的X射线能量本身就很低，不知道你见过牙片机吗？那个还60KV以上呢，膜厚测试仪，从你给的这个数值来看应该是测量纸或者铝箔之类的低密度、很薄的物品的，这样看来，即便这中能量的X射线一直不停的对直你本人进行照射都不会有问题，何况还是折射和衍射，折射和衍射后的能量与原来的能量比是非常非常低的，200CI的Co-60源产生的射线，经过6次折射可以达到环境水平，可见能量损耗之强，衍射就更不用说了 ，这种能量的X射线根本就不会有衍射产生的，不用担心，所以，切莫恐慌。

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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。

   当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。