测厚仪-一六仪器有限公司-膜厚测试仪

一六仪器 **测厚仪 多道脉冲分析采集，光谱膜厚仪，**EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

测试面积是测厚仪器的一项很重要的参数，主要由准直器控制组成，但也受其它条件限制：

    1、受高压、光管限制，因为需要这两装置提供足够荧光强度和聚焦。

    2、受仪器结构限制，相同的准直器因安装的位置及与探测器的角度都影响测量面积，同样是直径0.2mm准直器Thick800A测量面积达到直径0.4mm，EDX1800B测量面积达到直径0.5mm，CMI900测量面积达到0.3mm，而XTU-A面积可以达到0.218.

江苏一六仪器   X射线荧光镀层测厚仪

仪器简介

      XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。

    搭配微聚焦射线管和**的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。

    检测78种元素镀层·0.005um检出限·测量面积可达0.002mm2·深凹槽可达90mm。

     外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，测厚仪，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都没有难度，让操作人员轻松自如。

  线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

  镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

  手表、精密仪表制造行业

  钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

  汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

  卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

  电镀液的金属阳离子检测

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um

X荧光测厚仪相关注意事项：

　　仪器供电电压必须与仪器品牌上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。

　　本仪器为精密仪器，配备的稳压电源.计算机应配备不间断电源(UPS)。

　　仪器应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。

　　为避免短路，严禁仪器与液体直接接触，膜厚测试仪，如果液体进入仪器，请立即关闭仪器。

　　本仪器不能用于酸性环境和场合。

　　不要弄脏和刮擦调校标准片，否则会造成读数错误。

　　不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物，可以用不起毛的布轻轻擦拭。