同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，高精度金属一般价格，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
二：仪器测量不准————
①请系统校准仪器，标定，使之符合误差范围------误差遵循≦3%(厚度值）±1um如需测试更加精准请在被测工件的光滑裸基上（而不是随机带的的铁块）进行系统校准。
②请检查探头前端是否磨损，是否变形，有附着物质等-------探头外护套是否不在水平等，变形可适当用砂纸打磨修正，处理干净.
③被测件基材表面粗糙度影响，引起系统误差和偶然误差----- 测量时在不同位置增加测量次数，克服偶然误差。或用砂纸打磨基材重新校对仪器零点。
④测量手法以及探头的放置-------需保持探头与试样垂直
⑤被测件曲度---------在该探头所适应的曲率半径下，重新校准。尤其管道凸面，注意探头V型卡槽稳定放置。
⑥其它因素请参阅说明书-----------咨询公司**服务或返厂检修
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