江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪 为大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析提供解决方案
X射线荧光光谱测厚仪操作流程:
1.打开仪器电源 开关
2.打开测试软件
3.联机
4.打开仪器高压**，观察软件界面管流值不为0值且正常上升至1000左右
5.待机30分钟
6.打开测试腔放入标准元素片Ag，通过调整移动平台滑轨和焦距旋钮使软件测试画面清晰
7.点击峰位校正图标按照提示进行操作
8.根据已知样品信息新建（或选择）合适的产品程式
9.点击资料图标，镀层分析仪，根据客户需求调整相关测量参数
10.放置样品：打开测试腔，将样品需要测试的一面大致朝向测试窗，边观察软件测试画面边通过移动平台滑轨微调测试位置进而达到测试要求位置
11.调整焦距：使用仪器左侧焦距调整旋钮，使得软件测试画面尽可能清晰
12.开始测量：点击开始测试图标，进行样品测试或者按动仪器前面板测试按钮进行样品测试
13.数据报告：对测量的数据结果进行对比和分析，判断数据是否正常，若出现异常可进行多次测量排除偶然误差
14.生成报告：点击预览报告可以对测试报告内容和格式进行调整，还可以电子版保存报告和直接打印纸质报告
15.整理反馈：对测试结果进行分析和整理，可通过给出测试报告的形式与客户进行沟通和反馈
X射线测厚仪结构
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um
（一）、外部结构原理图
X荧光做镀层分析时，根据射线是至上而下照射样品，还是至下而上照射样品的方式，将X荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。
（二）、各种外部结构的特点
1、上照射方式
用于照射(激发)的X射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的Z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，确保测量的准确性。
①、Z轴的移动方式
根据Z轴的移动方式，分为自动和手动两类；
自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都很高，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），一般只需要用鼠标在图像上点击一下即可**。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前主流的分析设备类型。
手动型设备，一般需要用人观察图像的方式，根据参考斑点的位置，手动上下调节Z轴方向，以达到准确对焦的目的。因此，往往在测试对象几何结构基本上没有变化的情况下使用比较快捷。②、X、Y轴水平移动方式
水平移动方式一般分为：无X、Y轴移动装置；手动X、Y轴移动装置；电动X、Y轴移动装置；全程控自动X、Y轴移动装置。
这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，例如：使用无X、Y轴移动装置的也很多，结构简单，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，**比较容易的测试对象。
江苏一六仪器 **涂镀层研发、生产、销售高新技术企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、**的解谱方法和EFP算法结合精准**及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。
单镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，光谱分析仪，Ag，Au，光谱膜厚仪，Sn等。
双镀层：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
三镀层：Au/Ni/Cu/ABS，东营测厚仪，Au/Ag/Ni/Cu， Au/Ni/Cu/Fe，等等
一、功能
1. 采用 X 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足
GB/T 16921-2005 标准（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。
2. 镀层层数：多至 5 层。
3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约 0.2—0.8毫米。
4. 测量时间：通常 30 秒。
5. 测量误差：通常小于 5%，视样品具体情况而定。
6. 可测厚度范围：通常 0.01 微米到 30 微米，视样品组成和镀层结构而定。
镀层分析仪-东营测厚仪-江苏一六仪器有限公司由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司是江苏 苏州 ,专用仪器仪表的企业，多年来，公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针，满足客户需求。在一六仪器**携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈，共创一六仪器更加美好的未来。
