江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪 元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)
厚度分析范围:各种元素及有机物
x射线荧光镀层测厚仪(国产)是一款针对金属电镀层(镀金、镀镍、镀锌、镀锡等)厚度的,通过X荧光照射出产品,每个元素反射出的二次特征谱线,通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度,完全达到无损、快速分析的效果,产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业(铝平行管、电镀五金),涂层测厚仪,连接器企业、开关企业等。
x射线荧光镀层测厚仪性能优势
采用高度**激光,可自动**测试高度
**激光确定**光斑,确保测试点与光斑对齐
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏**传感器保护
minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可**测试点,重复**精度小于0.005mm
鼠标可控制移动平台,光谱分析仪,鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数
minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
一次可同时分析多达五层镀层
度适应范围为15℃至30℃
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
分析含量一般为2ppm到99.9%










江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们**的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名**通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、**的解谱方法和EFP算法结合精准**及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
目前,金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析(GD-OES)和X射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层,测厚仪厂家,逐层溶解并进行测定,方法准确但费时费力,尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂,价格又贵,属于典型*坏性样品检测,测量手段手段繁琐,速度慢,电解液耗损大,目前一般很少应用。GD-OES方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层,再用发射光谱测定,这种方法可实现剖面或逐层分析,但测量重复性并不理想。


一六仪器 **测厚仪 多道脉冲分析采集,**EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
软件算法
?大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知厚度样品,寻求想测定元素的荧光X射线强度和厚度之间的关系,以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线,从而得到浓度值。
?另一个方法是理论演算的基础参数法(FP法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提,利用计算的各个荧光X射线强度的理论值,推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。
?NBS-GSC法也称作理论Alpha系数法。它是基于荧光X射线激发的基本原理,上海测厚仪,从理论上使用基本物理参数计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线荧光强度的。基于此再计算Lachance综合校正系数,然后使用这些理论α系数去校正元素间的吸收增强。它与经验系数法不同,这些校正系数是从“理论”上取得的,而非建立在“经验”上。因而它也不需要那么多的标样,只要少数标样来校准仪器因子。
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