涂层测厚仪-一六仪器1-杭州测厚仪

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

性能优势：

 下照式设计：可以快速方便地**对焦样品。

 无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

 微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

 率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

 精密微型滑轨：快速精准**样品。

 EFP**算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

测厚仪和膜厚仪一样吗

测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，电镀膜厚仪，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

膜厚仪：属于测厚仪的一种，膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂层测厚仪，为磁阻法和电涡流原理，膜厚测试仪，台式的不同原理也有好多种，电感原理等。

江苏一六仪器    **测厚仪   多道脉冲分析采集    **EFP算法

膜厚仪又名膜厚测试仪分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。

手持式的磁感应原理是，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

台式的荧光X射线膜厚仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，杭州测厚仪，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

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仪器规格：

 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

 样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

 仪器重量 ：55kg

 供电电源 ：交流220±5V

 da功率 ：330W

 环境温度：15℃-30℃

 环境相对湿度：<70%

X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些

第四，在生产过程中，涂层测厚仪，补偿值也会对X射线测厚仪的测量精度造成影响。我们利用测厚仪测量是，会事先给测厚仪输入一个补偿值，让测量值与实际值相等。在这个过程中，操作者首先对板材进行测量，但是操作者使用量尺的方式不同，就会造成补偿值的大小不等，会形**为的误差。只有在进行测量时，操作者认真操作，减少补偿值得测算误差，使补偿值接近真实值，提高X射线测厚仪的测量精度。