光谱膜厚仪-一六仪器1-舟山测厚仪

一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证

江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、**的解谱方法和EFP算法结合精准**及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！

当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。

X射线的激发

   如果要得到某元素的特征X射线，光谱膜厚仪，需要对元素原子内层电子进行激发，使得内层电子获得一定能量，能够脱离原子核的束缚，测厚仪厂家，从而在内层轨道形成电子空穴，当较高能级电子填补这一空穴时，才会发射一定能量的特征X射线，这个过程就是X射线的激发。

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微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件.

测厚仪分类：

一、磁性式

二、涡电流式

三、红外测厚仪

四、电解式（库伦法）

五、金相测试法

六、非*坏荧光式（***）

1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。

一六仪器_光谱测厚仪研发生产厂家一六仪器一liu品质，可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟，多小多复杂的样品轻松搞定，涂层测厚仪，欢迎来电咨询!

常见几种测厚仪的工作原理是什么：

2、测厚仪原理--X射线测厚仪

     X射线测厚仪：此类测厚仪利用的是当X射线穿透被测材料时，舟山测厚仪，X射线强度的变化与材料厚度相关联的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。

     3、测厚仪原理--超声波测厚仪

     超声波测厚仪：这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲会发生反射而返回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。