测厚仪-江苏一六仪器有限公司-涂层测厚仪

一六仪器 **测厚仪 多道脉冲分析采集，**EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，涂层测厚仪，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

能量色散X荧光光谱仪定义及原理

X射线荧光光谱仪是一种可以对多元素进行快速同时测定的仪器。试样受X射线照射后，镀层测厚仪，其中各元素原子的内壳层（K，L或M层）电子被激发逐出原子而引起电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征X射线。能散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）利用荧光X射线具有不同能量的特点，由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的X射线。

江苏一六仪器    X荧光光谱测厚仪

下照式设计：可以快速方便地**对焦样品。

  无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

  微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

  接收：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

  精密微型滑轨：快速精准**样品。

  EFP**算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

一六仪器 **测厚仪 多道脉冲分析采集，**EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，荧光测厚仪，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

上照式：通常都有Z轴可移动，所以可对形状复杂的样品（如凹面内）做**并且测试，一般可**到2mm以内的深度，如Thick800A，另外有些厂商在此基础上配备了可变焦装置，搭配**的算法，可**到80mm以内的深度，测厚仪，如XDL237

下照式：通常都没有Z轴可移动，所以不可对凹面等无法直接接触测试窗口的位置进行**并测试，但操作简单，造价相对低；部分厂商或款式仪器搭载变焦装置也可测试复杂形状样品，同时也抬高了价格