




数字IC密码算法主要分三类:对称算法、非对称算法、杂凑算法。
***1对称密码算法:一种分组密码算法,分组长度为128位,密钥长度为128比特。
主要产品有:智能IC卡、智能密码**、加密卡、加密机等安全产品。
***2椭圆曲线公钥密码算法(非对称):一种椭圆曲线公钥密码算法,其密钥长度为256比特。
***3杂凑算法:一种密码杂凑算法,其输出为256比特。

适用于***22椭圆曲线公钥密码算法中的数字签名和验证。
***4对称密码算法:一个分组算法,用于无线局域网产品。
***7对称密码算法:一种分组算法,分组长度为128比特,密钥长度为128比特。
适用于非IC卡应用,例如门禁卡、参赛证、门票,**类校园一卡通,公交一卡通,企业一卡通
*****9非对称算法:**是基于对的标识密码算法,与***2类似。区别于***2算法,***9算法是以用户的标识(例如:、邮箱等)作为公钥,省略了交换数字证书公钥过程。
适用于云存储安全、物联网安全、电子邮件安全、智能终端保护等。
IC产品的生命周期
典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线(Bathtub Curve)来表示。Ⅰ Ⅱ ⅢRegion (I) 被称为早夭期(Infancy period)
这个阶段产品的 failure rate 快速下降,造成失效的原因在于IC设计和生产过程中的缺陷;Region (II) 被称为使用期(Useful life period)在这个阶段产品的failure rate保持稳定,失效的原因往往是随机的,陆丰数字芯片,比如温度变化等等;u Region (III) 被称为磨耗期(Wear-Out period)在这个阶段failure rate 会快速升高,失效的原因就是产品的长期使用所造成的老化等。认识了典型IC产品的生命周期,我们就可以看到,Reliability的问题就是要力图将处于早夭期failure的产品去除并估算其良率,预计产品的使用期,并且找到failure的原因,尤其是在IC生产,封装,存储等方面出现的问题所造成的失效原因。下面就是一些 IC 产品可靠性等级测试项目(IC Product Level reliability testitems )

一、使用寿命测试项目(Life test items):EFR, OLT (HTOL), LTOL①EFR:早期失效等级测试( Early fail Rate Test )目的: 评估工艺的稳定性,加速缺陷失效率,去除由于天生原因失效的产品。测试条件: 在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试失效机制:材料或工艺的缺陷,包括诸如氧化层缺陷,金属刻镀,离子玷污等由于生产造成的失效。
1. 数据准备。
对于 CDN 的 Silicon Ensemble而言后端设计所需的数据主要有是Foundry厂提供的标准单元、宏单元和I/O Pad的库文件,**信号转换数字芯片,它包括物理库、时序库及网表库,分别以.lef、.tlf和.v的形式给出。前端的芯片设计经过综合后生成的门级网表,具有时序约束和时钟定义的脚本文件和由此产生的.gcf约束文件以及定义电源Pad的DEF(DesignExchange Format)文件。(对synopsys 的Astro 而言,经过综合后生成的门级网表,模拟芯片和数字芯片,时序约束文件 SDC是一样的,Pad的定义文件--tdf , .tf 文件 --technology file, Foundry厂提供的标准单元、宏单元和I/OPad的库文件就与FRAM, CELL view, LM view 形式给出(Milkway 参考库 and DB, LIB file)

2. 布局规划。
主要是标准单元、I/O Pad和宏单元的布局。I/OPad预先给出了位置,而宏单元则根据时序要求进行摆放,标准单元则是给出了一定的区域由工具自动摆放。布局规划后,芯片的大小,Core的面积,Row的形式、电源及地线的Ring和Strip都确定下来了。如果必要在自动放置标准单元和宏单元之后,你可以先做一次PNA(power network analysis)--IR drop and EM .
3. Placement -自动放置标准单元。
布局规划后,宏单元、I/O Pad的位置和放置标准单元的区域都已确定,数字芯片作用是什么意思,这些信息SE(SiliconEnsemble)会通过DEF文件传递给(PhysicalCompiler),PC根据由综合给出的.DB文件获得网表和时序约束信息进行自动放置标准单元,同时进行时序检查和单元放置优化。如果你用的是PC+Astro那你可用write_milkway, read_milkway 传递数据。
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