电镀测厚仪-测厚仪-江苏一六仪器(查看)

江苏一六仪器  X射线荧光光谱测厚仪研发生产厂  一六仪器一liu品质  可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟，欢迎来电咨询!

性能优势：

   下照式设计：可以快速方便地**对焦样品。

   无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

   微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

   率的jie shou qi：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

   EFP**算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

激光测厚仪的技术指标介绍

   激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，电镀膜厚仪，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，测厚仪，相对接触式测厚仪更精准，电镀测厚仪，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。

江苏一六仪器  国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 

稳定的多道脉冲分析采集系统，专利独特聚焦和变距设计，多元EFP算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

能量色散X射线的发生与特征当用高能电子束照耀样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加快度会发生宽带的延续X射线谱，简称为延续潜或韧致辐射。

另一方面，化学元素遭到高能光子或粒子的照耀，如内层电子被激起，光谱膜厚仪，则当外层电子跃迁时，就会出特征X射线。

能量色散X射线是一种别离的不延续谱.假如激起光源为x射线，则受激发生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征X射线显示了特征能量色散X射线荧光光谱仪发生的进程。

当人射x射线撞击原子中的电子时，如光子能量大于原子中的电子约束能，电子就会被击出。这一互相效果进程被称为光电效应，被打出的电子称为光电子。经过研讨光电子或光电效应可以取得关于原子构造和成键形态的信息。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。本公司**的技术，you秀的良将，严格的企业管理是不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。一六仪器、一liu品质，各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！

激光测厚仪技术指标：

     可测范围：0～500mm

      较：0.5μm

     测量速度：较高9400Hz

     测量距离：10～200mm

     被测体水平方向运动速度较高560m/min