随着集成电路技术的飞速发展，集成电路的测试技术已成为集成电路产业发展重要支撑之一，也是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。目前，集成电路测试仪一般价格比较高，但在电子实验室的实验中经常需要测试中、小规模数字IC好坏，数字集成电路的测试又是一项经常性的工作，所以，自己设计一台经济实用的集成电路测试仪是非常必要的。
研究了国内外集成电路测试技术，提出了基于单片机系统的数字IC测试仪的设计，设计包括硬件系统设计和软件系统设计。的**是硬件系统电路设计。设计包括AT89C52单片机的选择，可编程I/O接口，电源系统、键盘、复位电路，LED显示接口CH451，计算机与单片机串行通信接口MAX232，测试插座接口，上位计算机等。硬件系统各功能单元电路的设计全部采用模块化，每部分电路的选择都经过比较和优化设计，便于以后硬件的升级。 针对单片机电源电路带负载能力的扩流和测试插座接口电路的设计及数字IC测试向量编码方法等方面进行了改进，提高了硬件系统的可靠性，简化了软件编程，并借助EDA技术进行了验证。
一个合格数字Ic设计师需要掌握的技能有哪些？
在数字IC设计流程中，前端设计工程师们需要运用到的技能有很多，那么对于设计师而言，华为数字ic设计工资，需要掌握的技能到底有哪些呢？接下来和小编一起了解一下.
语言类
Verilog-2001/ VHDL
SystemVerilog/ SystemC
Makefile/ Perl/ Python
Tcl
工具类
NCVerilog/ VCS/ ModelSim
SimVision/ DVE/ Verdi
Vim/ Emacs
SVN/ CVS/ Git
Microsoft Office
平台类
Windows
Linux
OS X
其他加分项目
MATLAB
ISE/ Synplify/ Vivado/ Quartus
LEC/Formality
VMM/ UVM
ESL
ZeBu Server
JIRA/ Confluence
C/ Assembly Language
Computer Architecture/ ARM Architecture/ MIPS Architecture
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随着深亚微米CMOS工艺的发展，工艺尺寸的缩小使模拟电路的设计变得更加复杂，尽可能采用数字电路代替模拟电路成为发展的趋势。锁相环作为时钟产生电路是射频通信系统中的关键模块，其中全数字锁相环具有良好的集成性、可移植性和可编程性，以及能够实现较好的相位噪声指标等优势，得到了越来越广泛的研究和发展。本文着重于2.4GHz CMOS全数字锁相环的研究与设计，主要工作包括:
1)首先分析并推导了全数字锁相环的主要性能指标，接着分析了I型和II型全数字锁相环的原理和结构特点，数字ic设计基础知识，并分析了环路参数对整个环路特性与稳定性的影响。
2)提出一种用于时间数字转换器(Time-to-Digital Converter，TDC)的互补比较器的结构，在传统比较器结构的基础上，叠加一个与之互补的比较器，能够消除输出波形的毛刺，降低输入失调电压，提高比较器的工作速度，进而改善比较器的精度。
3)提出一种可重构数字滤波器(Digital Loop Filter，DLF)，将DLF的参数KP、KI做成芯片外的控制端口，数字ic设计和嵌入式，通过片外手动调节来改变芯片内部的参数，数字ic设计，可以改变全数字锁相环的带宽，开环和闭环响应，以及幅度响应等，终能够方便地在片外调节，使环路达到锁定状态。
4)分析和设计了一款数控振荡器(Digitally Controlled Oscillator，DCO)，采用CMOS交叉耦合LC振荡器，包括粗调、中调和精调三个电容阵列和ΔΣ调制器。其中，粗调单元采用MIM电容，中调和精调单元采用两对反向连接的PMOS对管构成MOS电容，本文DCO的增益为300kHz左右，使用ΔΣ调制器后，DCO的分辨率可以达到5kHz左右。
