涂层测厚仪-一六仪器(在线咨询)-苏州测厚仪

江苏一六仪器   X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列 

技术参数

X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管

准直器φ 0.05 mm  ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 准直器任意选择或者任意切换

近测距光斑扩散度：9%

测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)

样品观察：1/2.5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦

放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍

随机标准片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um 

其它附件：联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱

     一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

   江苏一六仪器  X荧光测厚仪测试要求：

工作要求：

1 环境温度要求：15℃-30℃

2 环境相对湿度：<70%

3 工作电源：交流220±5V

4 周围不能有强电磁干扰。

5 Max功率 ：330W

6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

7 样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

8 仪器重量 ：55kg

9 分析软件EFP，苏州测厚仪，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析

10 软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，光谱测厚仪，避免操作错误

11 X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管

       江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们**的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名**通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

       X荧光镀层测厚仪金属成分含量的测定

在包含某种元素1的样品中，照射一次X射线，涂层测厚仪，就会产生元素1的荧光X射线，不过这个时候的荧光X射线的强度会随着样品中元素1的含量的变化而改变。元素1的含量多，电镀膜厚仪，荧光X射线的强度就会变强。注意到这一点，如果预先知道已知浓度样品的荧光X射线强度，就可以推算出样品中元素1的含量。采用定量分析的时候，可以在样品中加入高纯度的二氧化硅，作为参比样，并且掺量是已知的。这样可以间接知道其他组分的含量。