测厚仪-江苏一六仪器-光谱膜厚仪

一六仪器-------镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

X射线测厚仪测量精度的影响因素

X射线源的衰减对于工厂现场的的标定过程中，随着使用时间的增加，测厚仪，灯管的曲线会发生变化，在同一电压下，电镀测厚仪，随着使用灯管时间的递加，厚度偏差会越来越大，因此，X射线源的衰减，是影响测量精度的一个主要原因。除了正常使用过程中X射线源会出现衰减，在出现某些故障是，也会发生突发性的衰减，出现标准化通过不过，反馈的电压与工厂现场标准电压相差巨大，发生这种情况，光谱膜厚仪，X射线测厚仪的测量精度肯定是不准确的。

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膜厚仪又名膜厚测试仪分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。

手持式的磁感应原理是，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

台式的荧光X射线膜厚仪，镀层分析仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

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仪器规格：

 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

 样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

 仪器重量 ：55kg

 供电电源 ：交流220±5V

 da功率 ：330W

 环境温度：15℃-30℃

 环境相对湿度：<70%

X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些

第四，在生产过程中，补偿值也会对X射线测厚仪的测量精度造成影响。我们利用测厚仪测量是，会事先给测厚仪输入一个补偿值，让测量值与实际值相等。在这个过程中，操作者首先对板材进行测量，但是操作者使用量尺的方式不同，就会造成补偿值的大小不等，会形**为的误差。只有在进行测量时，操作者认真操作，减少补偿值得测算误差，使补偿值接近真实值，提高X射线测厚仪的测量精度。