一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪可调整测量位置，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
测定部显示尽像的表示：***照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。
江苏一六仪器有限公司 **镀层测厚检测 欢迎来电详询！
X射线荧光光谱分析可以非*坏性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行特别的化学处理、快速，方便，测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。
江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪 为大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析提供解决方案
X射线荧光光谱测厚仪操作流程:
1.打开仪器电源 开关
2.打开测试软件
3.联机
4.打开仪器高压**，观察软件界面管流值不为0值且正常上升至1000左右
5.待机30分钟
6.打开测试腔放入标准元素片Ag，通过调整移动平台滑轨和焦距旋钮使软件测试画面清晰
7.点击峰位校正图标按照提示进行操作
8.根据已知样品信息新建（或选择）合适的产品程式
9.点击资料图标，根据客户需求调整相关测量参数
10.放置样品：打开测试腔，荧光测厚仪，将样品需要测试的一面大致朝向测试窗，镀层测厚仪，边观察软件测试画面边通过移动平台滑轨微调测试位置进而达到测试要求位置
11.调整焦距：使用仪器左侧焦距调整旋钮，嘉兴测厚仪，使得软件测试画面尽可能清晰
12.开始测量：点击开始测试图标，进行样品测试或者按动仪器前面板测试按钮进行样品测试
13.数据报告：对测量的数据结果进行对比和分析，判断数据是否正常，若出现异常可进行多次测量排除偶然误差
14.生成报告：点击预览报告可以对测试报告内容和格式进行调整，还可以电子版保存报告和直接打印纸质报告
15.整理反馈：对测试结果进行分析和整理，可通过给出测试报告的形式与客户进行沟通和反馈
光谱测厚仪-嘉兴测厚仪-江苏一六仪器有限公司由江苏一六仪器有限公司提供。“测厚仪,标准片”就选江苏一六仪器有限公司，公司位于：江苏省昆山市玉山镇成功路168号，多年来，一六仪器坚持为客户提供好的服务，联系人：邓女士。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。一六仪器期待成为您的长期合作伙伴！
