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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，涂层测厚仪，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。

   当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，南京测厚仪，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。

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性能优势：

 下照式设计：可以快速方便地**对焦样品。

 无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

 微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

 精密微型滑轨：快速精准**样品。

 EFP**算法软件：多层多元素，测厚仪厂家，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

X射线测厚仪应用在哪些方面

适用范围：生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中， x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

    为了让我们生产的产品更符合客户的要求，那么找到适用于我们产品的测厚仪就非常重要了，镀层测厚仪，因此如果不了解应该使用哪种测厚仪，较好的方法就是咨询**，在**的角度上给你一个建议，也可以了解下产品信息。

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测厚仪主要类型

   用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。