光谱分析仪-测厚仪-江苏一六仪器有限公司(查看)

一六仪器 **测厚仪 多道脉冲分析采集，**EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，测厚仪，家用电器，光谱分析仪，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

上照式：通常都有Z轴可移动，所以可对形状复杂的样品（如凹面内）做**并且测试，一般可**到2mm以内的深度，如Thick800A，另外有些厂商在此基础上配备了可变焦装置，搭配**的算法，可**到80mm以内的深度，如XDL237

下照式：通常都没有Z轴可移动，所以不可对凹面等无法直接接触测试窗口的位置进行**并测试，但操作简单，造价相对低；部分厂商或款式仪器搭载变焦装置也可测试复杂形状样品，同时也抬高了价格

    一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

   元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及有机物

   一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

     X射线荧光光谱测厚仪   X射线的产生  

X射线波长略大于0.5纳米的被称作软X射线。波长短于0.1纳米的叫做硬X射线。

产生X射线的简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中，电子突然减速，其损失的动能(其中的1%)会以光子形式放出，形成***光谱的连续部分，镀层分析仪，称之为制动辐射。通过加大加速电压，电子携带的能量增大，则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴，外层电子跃迁回内层填补空穴，同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是化的，光谱膜厚仪，所以放出的光子的波长也集中在某些部分，形成了***谱中的特征线，此称为特性辐射。

      江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们**的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名**通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

      X射线荧光光谱测厚仪定量分析

利用荧光X射线进行定量分析的时候，大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品，寻求想测定元素的荧光X射线强度和浓度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线，从而得到浓度值。

      另一个方法是理论演算的基础参数法(FP法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光X射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。