测厚仪-江苏一六仪器-涂层测厚仪

一六仪器  国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪  

一六仪器研发生产的X荧光光谱仪，稳定的多道脉冲分析采集系统，专利独特聚焦和变距设计，测厚仪，多元EFP算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

仪器规格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）

   样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）

   仪器重量 ：55kg

   供电电源 ：交流220±5V

    *** da功率 ：330W

   环境温度：15℃-30℃

   环境相对湿度：<70%

涂层测厚仪操作规程有哪些

   我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，涂层测厚仪，甚至严重的可能会对自身产生威胁，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：

 一、操作注意事项

  1. 如果在测量中测头放置不稳，会引起测量值与实际值偏差较大；

  2.  如果已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差 范围内；

  3. 仪器的任何一个测量值都是五次看不见的测量平均值；

  4.  为使测量更加准确，可在一个点多次测量，并计算其平均值作为 终的测量结果；

  5.  显示测量结果后，一定要提起测头至距离工件10mm以上，测厚仪厂家，才可以 进行下次测量。

江苏一六仪器  国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 

稳定的多道脉冲分析采集系统，专利独特聚焦和变距设计，多元EFP算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

能量色散X射线的发生与特征当用高能电子束照耀样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加快度会发生宽带的延续X射线谱，简称为延续潜或韧致辐射。

另一方面，化学元素遭到高能光子或粒子的照耀，如内层电子被激起，电镀测厚仪，则当外层电子跃迁时，就会出特征X射线。

能量色散X射线是一种别离的不延续谱.假如激起光源为x射线，则受激发生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征X射线显示了特征能量色散X射线荧光光谱仪发生的进程。

当人射x射线撞击原子中的电子时，如光子能量大于原子中的电子约束能，电子就会被击出。这一互相效果进程被称为光电效应，被打出的电子称为光电子。经过研讨光电子或光电效应可以取得关于原子构造和成键形态的信息。

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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。

   当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。