镀层测厚仪-测厚仪-江苏一六仪器有限公司(查看)

江苏一六仪器 XTU系列 XTU-BL X荧光光谱仪

仪器规格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）

   样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）

   仪器重量 ：55kg

   供电电源 ：交流220±5V

   功率 ：330W

   环境温度：15℃-30℃

   环境相对湿度：<70%

EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的， 根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用，可以对样品进行微区成分分析。

常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离，产生若干电子-空穴对，其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对，经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器，并计数能谱中每个能带的脉冲数。

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江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们**的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

一六仪器  X荧光光谱测厚仪

镀层分析X射线荧光光谱特点

     1.镀层分析快速、无损，测厚仪，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。

     2.可测试超薄的镀层。

     3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。

     4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。

     5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。

     6.对分析的多镀层每层之间的材料，镀层测厚仪，要求有明显的区别

     7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。

     8.可以对样品进行测试

     9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样

江苏一六仪器    我们**的研发团队具备十年以上的从业经验，荧光测厚仪，经与海内外多名通力合作，测厚仪厂家，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、**的解谱方法和EFP算法结合精准**及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

-样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

7计算机系统配置IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器，256M内存，1.44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，17寸彩显，56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。

8分析应用软件操作系统:Windows2000中文平台中文分析软件包:***artLinkFP软件包