光谱膜厚仪-测厚仪-江苏一六仪器(查看)

江苏一六仪器    X射线荧光镀层测厚仪  元素分析范围：氯（CI）- 铀（U）   

                                                     厚度分析范围：各种元素及有机物 

     x射线荧光镀层测厚仪（国产）是一款针对金属电镀层（镀金、镀镍、镀锌、镀锡等）厚度的，通过X荧光照射出产品，每个元素反射出的二次特征谱线，通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度，完全达到无损、快速分析的效果，产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业（铝平行管、电镀五金），光谱分析仪，连接器企业、开关企业等。

     x射线荧光镀层测厚仪性能优势

采用高度**激光，可自动**测试高度

**激光确定**光斑，确保测试点与光斑对齐

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏**传感器保护

minimum  φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

移动平台可**测试点，重复**精度小于0.005mm

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数

minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

一次可同时分析多达五层镀层

度适应范围为15℃至30℃

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

分析含量一般为2ppm到99.9%

一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体

元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)   厚度分析范围:各种元素及有机物

一次可同时分析:23层镀层，24种元素   厚度检出限:0.005um

选择Elite（一六仪器）X射线荧光镀层测厚仪理由：

   根据IPC规程，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，测厚仪，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu，因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，如果使用Au，Pd，Ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，并且Pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，Elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的Au/Pd/Ni/Base标准片，不需要几种箔片叠加校正，可以确保镀层测量的准确性。

2、采用微聚焦X射线管，油槽式设计，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行测量。

3、Elite（一六仪器）WinFTM专用软件，具有强大且界面友好、中英文切换，多可同时测量23层镀层，24种元素，测量数据可直接以WORD格式或EXCEL格式输出、打印、保存。采用基本参数法（FP），有内置频谱库，光谱膜厚仪，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。

4、 Elite（一六仪器）针对PCB（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的X射线荧光测厚仪（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。

江苏一六仪器   X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列 

技术参数

X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管

准直器φ 0.05 mm  ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 准直器任意选择或者任意切换

近测距光斑扩散度：9%

测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，膜厚测试仪，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)

样品观察：1/2.5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦

放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍

随机标准片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um 

其它附件：联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱