典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线（Bathtub Curve）来表示。Ⅰ Ⅱ ⅢRegion (I) 被称为早夭期（Infancy period）
这个阶段产品的 failure rate 快速下降，造成失效的原因在于IC设计和生产过程中的缺陷；Region (II) 被称为使用期（Useful life period）在这个阶段产品的failure rate保持稳定，失效的原因往往是随机的，比如温度变化等等；u Region (III) 被称为磨耗期（Wear-Out period）在这个阶段failure rate 会快速升高，失效的原因就是产品的长期使用所造成的老化等。认识了典型IC产品的生命周期，我们就可以看到，Reliability的问题就是要力图将处于早夭期failure的产品去除并估算其良率，预计产品的使用期，并且找到failure的原因，数字ic设计，尤其是在IC生产，封装，存储等方面出现的问题所造成的失效原因。下面就是一些 IC 产品可靠性等级测试项目（IC Product Level reliability testitems ）
一、使用寿命测试项目（Life test items）：EFR， OLT (HTOL)， LTOL①EFR:早期失效等级测试（ Early fail Rate Test ）目的: 评估工艺的稳定性，数字ic设计是干什么，加速缺陷失效率，去除由于天生原因失效的产品。测试条件: 在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试失效机制：材料或工艺的缺陷，包括诸如氧化层缺陷，金属刻镀，离子玷污等由于生产造成的失效。
过程控制计算机软件包
发展强有力的程序测试系统，是提高程序可靠性的有效手段。但当前由于国内软件包的问世，在测试范围、测试要求和测试方法等方面，都提出了新的要求，原有的一般程序测试工具已不能**地、完整地完成测试任务。因此，就提出了设计新的测试系统的要求。本文主要是根据软件包测试的新要求，提出了设计新的测试系统的一些准则。在此基础上，进一步阐明如何根据这些准则，来组成一个测试系统;并以实例来说明这种系统的使用对加速程序测试和提高其可靠性是有效的;同时，使用也很方便。
深圳瑞泰威科技有限公司是国内IC电子元器件的代理销售企业，**从事各类驱动IC、存储IC、传感器IC、触摸IC销售，品类齐全，具备上百个型号。与国内外的东芝、恩智浦、安森美、全宇昕、上海晶准等均稳定合作，保证产品的品质和稳定供货。自公司成立以来，飞速发展，产品已涵盖了工控类IC、光通信类IC、无线通信IC、消费类IC等行业。
随着深亚微米CMOS工艺的发展，工艺尺寸的缩小使模拟电路的设计变得更加复杂，尽可能采用数字电路代替模拟电路成为发展的趋势。锁相环作为时钟产生电路是射频通信系统中的关键模块，其中全数字锁相环具有良好的集成性、可移植性和可编程性，以及能够实现较好的相位噪声指标等优势，得到了越来越广泛的研究和发展。本文着重于2.4GHz CMOS全数字锁相环的研究与设计，主要工作包括:
1)首先分析并推导了全数字锁相环的主要性能指标，接着分析了I型和II型全数字锁相环的原理和结构特点，格力数字ic设计，并分析了环路参数对整个环路特性与稳定性的影响。
2)提出一种用于时间数字转换器(Time-to-Digital Converter，TDC)的互补比较器的结构，在传统比较器结构的基础上，叠加一个与之互补的比较器，能够消除输出波形的毛刺，降低输入失调电压，提高比较器的工作速度，进而改善比较器的精度。
3)提出一种可重构数字滤波器(Digital Loop Filter，DLF)，数字ic 设计流程，将DLF的参数KP、KI做成芯片外的控制端口，通过片外手动调节来改变芯片内部的参数，可以改变全数字锁相环的带宽，开环和闭环响应，以及幅度响应等，终能够方便地在片外调节，使环路达到锁定状态。
4)分析和设计了一款数控振荡器(Digitally Controlled Oscillator，DCO)，采用CMOS交叉耦合LC振荡器，包括粗调、中调和精调三个电容阵列和ΔΣ调制器。其中，粗调单元采用MIM电容，中调和精调单元采用两对反向连接的PMOS对管构成MOS电容，本文DCO的增益为300kHz左右，使用ΔΣ调制器后，DCO的分辨率可以达到5kHz左右。
