测厚仪-江苏一六仪器-荧光测厚仪

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

性能优势：

 下照式设计：可以快速方便地**对焦样品。

 无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

 微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

 率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

 精密微型滑轨：快速精准**样品。

 EFP**算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

X射线测厚仪应用在哪些方面

     X射线测厚仪主要应用在哪些方面？对于我们要使用到测厚仪的厂家来说，测厚仪能否适用于我们的产品是非常重要的，光谱膜厚仪，那么X射线测厚仪主要应用在哪些方面？接下来就来了解下：

   X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，测厚仪，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度。

仪一六仪器 快速精准分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统，**的解谱方法，解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析，

微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件.

测厚仪分类：

一、磁性式

二、涡电流式

三、红外测厚仪

四、电解式（库伦法）

五、金相测试法

六、非*坏荧光式（***）

1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，荧光测厚仪，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

仪器规格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

仪器重量 ：55kg

供电电源 ：交流220±5V

da功率 ：330W

环境温度：15℃-30℃

环境相对湿度：<70%

测厚仪和膜厚仪一样吗

   测厚仪和膜厚仪是不一样的，膜厚仪属于测厚仪的分类，也就是说测厚仪是膜厚仪的上司一样，对此我们也可以来了解下测厚仪跟膜厚仪的一些概念：

测厚仪按原理分类:激光测厚仪、超声波测厚仪、X射线测厚仪、压力测厚仪、白光干涉测厚仪、电解式测厚仪、机械接触式测厚仪。

测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。