半导体生产流程由晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试组成。也可称为终段测试FinalTest。在此之前，由于封装成本较高整片晶元还必须经过针测ProbeTest。WLCSP此封装不同于传统的先切割晶圆，再组装测试的做法，而是先在整片晶圆上进行封装和测试，马鞍山封装测试，然后再切割。半导体器件有许多封装形式，按封装的外形、尺寸、结构分类可分为引脚插入型、表面贴装型和封装三类。
陶瓷封装陶瓷封装的许多用途具有的功能，特别是集成电路组件工作频率的提高，信号传送速度的加快和芯片功耗的增加，需要选择低电阻率的布线导体材料及低介电常数、高导电率的绝缘材料等。金属-陶瓷封装它是以传统多层陶瓷工艺为基础，以金属和陶瓷材料为框架而发展起来的。特征是高频特性好、噪音低而被用于微波功率器件。
PGA(PinGridArrayPackage)：插针网格阵列封装，封装测试工厂，插装型封装之一，基材多采用多层陶瓷基板。SIL(SingleIn-line)：单列直插式封装，封装测试公司，引脚从封装一个侧面引出，半导体芯片封装测试，排列成一条直线。封装的分类：。SIP(SystemInaPackage)：系统级封装，将多种功能芯片，包括处理器、存储器等功能芯片集成在一个封装内，从而实现一个基本完整的功能。
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