










1、检测结果有底片:
由于底片上记录的信息十分丰富,且可以长期保存,从而使射线照相法成为各种无损检测方法记录真实、直观、整体性的检测方法。
2、缺陷定性定量准确:
体积型缺陷检出率很高,而面积型缺陷的检出率受到多种因素影响。体积型缺陷是指气孔、夹渣类缺陷。面积型缺陷是指裂纹、未熔合类缺陷,X Ray检测设备报价,其检出率的影响因素包括缺陷形态尺寸、透照厚度、透照角度、透照几何条件、源和胶片种类、像质计灵敏度等。

1. 随着智能终端设备以及智能汽车电子产品的兴起,使封装小型化和组装的高密度化以及各种新型封装技术更趋精益求精,x ray在电路组装中用来检测质量的比重越来越大。
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