







特点
1、金属聚酯膜,无感式结构
2、阻燃环氧粉末包封(UL94 V-0)
3、自***性好,寿命长

主要用途
1、旁路,隔直,耦合,退耦
2、脉冲,逻辑,定时,电路振荡器
3、LCD监视器整流,縁直勰达***顔

技术要求
引用标准 7332 (IEC 60384-2)
气候类别 55/105/56
额定温度 P 85°C
工作温度范围 -55°C~105°C
(+85°C to +105°C: decreasing factor 1.25% per °C for VR(dc))
额定电压 P 50V,63V, 100V, 250V
电容量范围 O.OIOpF ~ 1.5|JF
电容量偏差 P±5%(J), ±10%(K), ±20%(M)
耐电压 1.4UR (5s)
损耗角正切 I S1.0% (20°C,1kHz)
绝缘电阻 | 215 000M。,CRW0.33卩F 25 000s,CR>0.33 卩 F (20°C,100V,1min) |
UR>100V 230 000MQ, CRM0.33卩F 210 000s,CR>0.33 卩 F (20°C,100V,1min) |
脉冲爬升速率 上限Maximum Pulse Rise Time (dv/dt) 若实际工作电压U比额定电压UR低,电容器可工 作在更高的dv/dt场合。这样dv/dt允许值为右表值 | UR(V) | dv/dt (V/ps) |
P=5.0 | ||
50 | 10 | |
63 | 10 | |
100 | 10 | |
250 | 20 |
深圳市纬迪实业发展有限公司
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薄膜电容损坏的原因
与击穿元件串联连接的元件上的电压将相应地上升,使得剩余组上的电压将相应地上升,并且通过每个元件的电流也将相应地增加。这一系列反应会导致各成分迅速老化,热值增加。同时,在较高电压的作用下,极板边缘也会发生局部放电。经过一定时间后,与故障元件串联的整组薄膜电容会相继击穿,连接新的一组。组数进一步减少,元件电压进一步升高,过流现象更加严重,介质进一步劣化,温度进一步升高,电弧会进一步增大。这样下去,部件损坏会越来越严重,箱壳膨胀会越来越严重。
金属薄膜电容的缺点
1.容量稳定性不如箔式电容器,这是因为金属化电容器在长期工作条件下容易发生容量损失,自愈后会导致容量下降。因此,如果用于对电容稳定性要求较高的振荡电路,选用金属箔电容更好。
2.承受大电流的能力差,因为金属化膜比金属箔薄得多,承载大电流的能力弱。为了克服金属化薄膜电容器的缺点,在制造过程中对大电流金属薄膜电容器产品进行了改进。由于金属薄膜电容器的电阻更优异,可焊性和自愈合性能令人满意,因此大大节省了尺寸和空间。
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