风闸运管测试设备行业客户诉求希望用2台设备完成机器视觉和运动控制，并大幅减低原本1台PC-BASED+多组PLC设备的功能偏差。我们找到了一个更的解决方案，封装测试厂家，用户现在使用一台设备同时实现机器视觉与运动控制功能，并且具有高精密仪表量测检测功能。一级封装——半导体制造的后工程芯片的封装，六安封装测试，通常的封装是指一级封装；二级封装——在印刷线路板上的各种组装；三级封装——手机等的外壳安装。
半导体生产流程由晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试组成。也可称为终段测试FinalTest。在此之前，由于封装成本较高整片晶元还必须经过针测ProbeTest。人们对芯片级封装还没有一个统一的定义，封装测试厂，有的公司将封装本体面积与芯片面积之比小于2的定为CSP，而有的公司将封装本体面积与芯片面积之比小于1。
封装测试设备的芯片载体封装80年代出现了芯片载体封装，其中有陶瓷无引线芯片载体LCCC(Leadle***eramicChipCarrier)、塑料有引线芯片载体PLCC(PlasticLeadedChipCarrier)、小尺寸封装SOP(***allOutlinePackage)、塑料四边引出扁平封装PQFP(PlasticQuadFlatPackage)，以0。
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