光刻胶的主要技术参数
1．灵敏度（Sensitivity）
灵敏度是衡量光刻胶***速度的指标。光刻胶的灵敏度越高，所需的***剂量越小。单位：毫焦/平方厘米或mJ/cm2。
2．分辨率（resolution）
区别硅片表面相邻图形特征的能力。一般用关键尺寸（CD，Critical Dimension）来衡量分辨率。形成的关键尺寸越小，光刻胶的分辨率越好。
光刻胶的分辨率是一个综合指标，影响该指标的因素通常有如下3个方面：
(1) ***系统的分辨率。
(2) 光刻胶的对比度、胶厚、相对分子质量等。一般薄胶容易得到高分辨率图形。
(3) 前烘、***、显影、后烘等工艺都会影响光刻胶的分辨率。
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微流控芯片硅片模具加工如何选择光刻胶呢？
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一般来说线宽的用正胶，线窄的用负胶，RD6光刻胶厂家，正性光刻胶比负性的精度要高，负胶显影后图形有涨缩，负性胶限制在2~3μm.，而正性胶的分辨力优于0.5μm 导致影响精度，正性胶则无这方面的影响。虽然使用更薄的胶层厚度可以改善负性胶的分辨率，RD6光刻胶报价，但是薄负性胶会影响。同种厚度的正负胶，RD6光刻胶，在对于抗湿法和腐蚀性方面负胶更胜一筹，正胶难以企及。
光刻胶的参数是什么？
分辨率、对比度和敏感度是光刻胶的技术参数。随着集成电路的发展，RD6光刻胶哪里有，芯片制造特征尺寸越来越小，对光刻胶的要求也越来越高。光刻胶的技术参数包括分辨率、对比度和敏感度等。为了满足集成电路发展的需要，光刻胶朝着高分辨率、高对比度以及高敏感度等方向发展。
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