静态及动态测试系统技术规范供货范围一览表序号名称型号单位数量1半导体静态及动态测试系统HUSTEC-2010套11范围本技术规范提出的是限度的要求，并未对所有技术细节作出规定，也未充分引述有关标准和规范的条文，供货方应提供符合工业标准和本技术规范的产品。用户能对旧品元件作筛选，留下可用元件，确实掌握设备运转的可靠度。本技术规范所使用的标准如遇与供货方所执行的标准不一致时，轨道交通用IGBT测试仪现货供应，应按较高标准执行。
4验收和测试3)验收试验应在-10～40℃环境温度下进行，验收完成后测试平台及外部组件和装置均应安装在买方的位置上。卖方出厂试验详细方案应提前提交买方评估，通过买方评估合格后实施方可视为有效试验。4)测试单元发货到买方前，卖方应进行出厂试验。卖方出厂试验详细方案应提前提交买方评估，轨道交通用IGBT测试仪，通过买方评估合格后实施方可视为有效试验。否则，需按买方提出的修改意见重新制定出厂试验方案，轨道交通用IGBT测试仪厂家，直至买方评估合格。
大功率半导体器件为何有老化的问题？
任何产品都有设计使用寿命，同一种产品不同的使用环境和是否得到相应的维护，延长产品使用寿命和设备良好运行具有极为重要。出厂调试结束、出厂前预验收完成后，卖方将为每个柜子量身定做包装柜，保证包装坚固，能适应中国境内公路、铁路运输，并兼顾设备在现场保存时间的要求。功率元件由于经常有大电流往复的冲击，对半导体结构均具有一定的耗损性及***性，若其工作状况又经常在其安全工作区的边缘，轨道交通用IGBT测试仪价格，更会加速元件的老化程度，故元件老化，就如人的老化一样是不可避免的问题。
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