轨道交通用IGBT测试仪-华科检测用IBGT

8）高压大功率开关

?电流能力200A

?隔离耐压10kV

?响应时间150ms

?脉冲电流20kA（不小于10ms）

?工作方式气动控制

?工作气压0.4MPa

?工作温度室温～40℃

?工作湿度<70%

9）尖峰***电容

用于防止关断瞬态过程中的IGBT器件电压过冲。

?电容容量200μF

?分布电感小于10nH

?脉冲电流200A

?工作温度室温～40℃

?工作湿度<70%

9）尖峰***电容用于防止关断瞬态过程中的IGBT器件电压过冲。?电容容量200μF?分布电感小于10nH?脉冲电流2kA ?工作温度室温～40℃?工作湿度<70% 11）动态测试续流二极管用于防止测试过程中的过电压。?反向电压 8000V(2只串联)?-di/dt大于2000A/μs?通态电流 1200A?压降小于1V?浪涌电流大于20kA?反向***时间小于2μs?工作温度室温～40℃?工作湿度<70%12）安全工作区测试续流二极管?反向电压12kV(3只串联)?现今PowerMOSFET(金属氧化物场效晶体管)及IGBT（绝缘栅型场效应晶体管）已成为大功率元件的主流，在市场上居于主导地位。-di/dt大于2000A/μS?通态电流1200A?压降小于1V?浪涌电流大于20kA?反向***时间小于2μS?工作温度室温～40℃?工作湿度<70%

为何老化的元件必须尽早发现及尽早更换？

当功率元件老化时，轨道交通用IGBT测试仪批发，元件的内阻在导通时必定会加大，因而使温度升高，轨道交通用IGBT测试仪，并使其效能降低。长期使用后若温升过高时，轨道交通用IGBT测试仪加工，会使元件在关闭时的漏电流急遽升高。(因漏电流是以温度的二次方的曲线增加)，进而使半导体的接口产生大量崩溃，而将此元件完全烧毁。当元件损毁时，会连带将其驱动电路上的元件或与其并联使用的功率元件一并损伤，所以，必须即早发现更换。当元件损毁时，轨道交通用IGBT测试仪现货供应，会连带将其驱动电路上的元件或与其并联使用的功率元件一并损伤，所以，必须即早发现更换。