为何老化的元件必须尽早发现及尽早更换?
当功率元件老化时,元件的内阻在导通时必定会加大,因而使温度升高,变频器用IGBT测试仪厂家,并使其效能降低。华科智源IGBT测试仪针对IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统。长期使用后若温升过高时,会使元件在关闭时的漏电流急遽升高。(因漏电流是以温度的二次方的曲线增加),进而使半导体的接口产生大量崩溃,变频器用IGBT测试仪现货供应,而将此元件完全烧毁。当元件损毁时,会连带将其驱动电路上的元件或与其并联使用的功率元件一并损伤,所以,必须即早发现更换。
其中:Vcc 试验电压源±VGG 栅极电压C1 箝位电容Q1 陪测器件(实际起作用的是器件中的续流二极管)L 负载电感 :100uH、200uH、500uH、1000uH自动切换IC 集电极电流取样电流传感器DUT 被测器件关断时间采用单脉冲测试,由计算机设定并控制输出集电极电压VCC值到被测器件的测试要求值(一般为被测器件额定电压的1/2),设定±VGG到测试要求值,开关被测器件DUT一次,被测器件的开冲持续时间必须保证DUT完全饱和,同时监测集电极电流IC、栅极-发射极电压VGE和集电极-发射极电压VCE,记录下被测器件IC、VCE以及VGE的波形,其中,变频器用IGBT测试仪价格,VCE采样到示波器的CH1通道,IC取样到示波器的CH2通道,变频器用IGBT测试仪,VGE采样到示波器的CH3通道,示波器通过光通讯方式将测试波形传输给计算机,由计算机对测试波形进行分析与计算,后显示测试结果。001~10V 集电极电流ICE: 0-1600A 集电极电压VCEs: 0。
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