科唯美特仪器设备-两箱式高低温冲击试验箱

为达到高低温（湿热）试验箱研制合同的要求，试验、评价和改进贯穿整个产品研制和生产过程，铜陵高低温冲击试验箱，主要包括研制试验、鉴定试验、验收试验和例行试验，如表1所示。环境试验是以产品对预期工作环境的适应性为考核目标的试验，包括耐受*恶劣的储存与运输环境而不致损坏和在合理极值环境条件下正常工作的能力。可靠性试验是按可靠性要求设计和进行的、有可靠性目标并在典型环境条件下的试验，高低温冲击试验箱价格，是验证产品在规定条件下和规定时间内能否实现预定功能而进行的试验，是可靠性增长试验、可靠性研制试验和可靠性验证试验的总称。

在 GJB 360B—2009《电子及电气元件试验方法》中涉及高温试验的有“高温寿命试验”，其试验目的是用于确定试验样品在高温条件下工作一段时间后，高温对试验样品的电气和机械性能的影响，从而对试验样品的质量做出评定。在 GJB 128A—1997《半导体分立器件试验方法》中涉及高温试验的有“高温寿命（非工作）”和“高温寿命（非工作）（抽样方案）”两种试验，前者的试验的目的是用于确定器件在承受规定的高温条件下是否符合规定的失效率，后者的试验目的是用于确定器件在承受规定的条件下是否符合规定的抽样方案。电子元器件在高温环境中，其冷却条件恶化，散热困难，两箱高低温冲击试验箱，将使器件的电参数发生明显变化或绝缘性能下降。例如，在高温条件下，存在于半导体器件芯片表面及管壳内的杂质加速反应，两箱式高低温冲击试验箱，促使沾污严重的产品加速退化。此外，高温条件对芯片的体内缺陷、硅氧化层和铝膜中的缺陷以及不良的装片、键合工艺等也有一定的检验效果。GJB 150《设备环境试验条件》是设备环境试验标准，它规定了统一的环境试验条件或等级，用以评价设备适应自然环境和诱发环境的能力，适用于设备研制、生产和交付各阶段，是制定有关设备标准和技术文件的基础和选用依据。

高低温箱的箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，使用简单操作方便。它的箱体外胆采用钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。目前高低温箱大量用在于科研研究、用品的保存、生物制品、电子元器件、化工材料等特殊的高低温试验以及储存。

高低温箱的使用***工艺参数：

温度波动度：±0.5℃ 温度均匀度: ±2℃　

升温速率:＞3℃/min　　

降温速率: ＞1℃/min *快可达5℃/min　　

湿度波动度: ±3﹪R.H　　

高低温箱的温度操控使用进口温度操控器。

对箱内所需温度进行检测和操控，加热执行元件使用SSR固态继电器。