










随着电子技术的飞速发展,封装的小型化和组装的高密度化以及各种新型封装技术的不断涌现,对电路组装质量的要求也越来越高。
目前在电子组装测试领域中使用的测试技术种类繁多,常用的有人工目检、飞针测试、IC 针床测试、自动光学检测(AOT)等。这些检测方式都有各自的优点和不足之处:
(1)人工目检是一种用肉眼检察的方法。其检测范围有限,深圳X Ray,只能检察器件漏装、方向极性、型号正误、桥连以及部分虚焊。由于人工目检易受人的主客观因素的影响,晶圆检测X Ray,具有很高的不稳定性。

自动光学检测(AOI)检测方法。它是通过CCD 照相的方式获得器件或PCB的图像,然后经过计算机的处理和分析比较来判断缺陷和故障。其优点是检测速度快,编程时间较短,可以放到生产线中的不同位置,便于及时发现故障和缺陷,使生产、检测和二为一。根据对各种检测技术和设备的了解,x-ray检测技术与上述几种检测技术相比具有更多的优点。它可使我们的检测系统得到较高的提升。为我们提高“一次通过率”和争取EE的目标,提供一种有效检测手段。

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