表格12动态参数测试部分组成
序号组成部分单位数量
1可调充电电源套1
2直流电容器个8
3动态测试负载电感套1
4安全工作区测试负载电感套1
5补充充电回路限流电感L个1
6短路保护放电回路套1
7正常放电回路套1
8高压大功率开关个5
9尖峰***电容个1
10主回路正向导通晶闸管个2
11动态测试续流二极管个2
12安全工作区测试续流二极管个3
13被测器件旁路开关个1
14工控机及操作系统套1
15数据采集与处理单元套1
16机柜及其面板套1
17压接夹具及其配套系统套1
18加热装置套1
19其他辅件套1
欲测知元件老化，检修用IGBT测试仪现货供应，所须提供的测量范围为何？当大功率元件在作导通参数的测试时，电流必须大到其所能承受的正常工作值，同时，在作关闭参数的漏电流测试时，电压也必须够高，以元件在真正工作状态下的电流与电压，如此其老化的程度才可显现。当这两个参数通过后，便表示元件基本上良好，检修用IGBT测试仪，再进一步作其他参数的测量，以分辨其中的优劣。建议进行高温测试，模拟器件使用工况，更为准确的判断器件老化程度。等领域，使半导体开发技术人员在市场需求下，对大功率元件的发展技术，持续在突破。
9）尖峰***电容用于防止关断瞬态过程中的IGBT器件电压过冲。?电容容量200μF?分布电感小于10nH?脉冲电流2kA ?工作温度室温～40℃?工作湿度<70% 11）动态测试续流二极管用于防止测试过程中的过电压。?反向电压 8000V(2只串联)?-di/dt大于2000A/μs?通态电流 1200A?压降小于1V?浪涌电流大于20kA?本技术规范所使用的标准如遇与供货方所执行的标准不一致时，应按较高标准执行。反向***时间小于2μs?工作温度室温～40℃?工作湿度<70%12）安全工作区测试续流二极管?反向电压12kV(3只串联)?-di/dt大于2000A/μS?通态电流1200A?压降小于1V?浪涌电流大于20kA?反向***时间小于2μS?工作温度室温～40℃?工作湿度<70%
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