大功率半导体器件为何有老化的问题？
任何产品都有设计使用寿命，同一种产品不同的使用环境和是否得到相应的维护，延长产品使用寿命和设备良好运行具有极为重要。3）IGBT饱和压降/FRD正向导通压降测试电路通态压降测试电路 。功率元件由于经常有大电流往复的冲击，对半导体结构均具有一定的耗损性及***性，若其工作状况又经常在其安全工作区的边缘，封装用IGBT测试仪加工，更会加速元件的老化程度，故元件老化，就如人的老化一样是不可避免的问题。
测试参数多且完整、应用领域更广泛，但只要使用其基本的2项功能：「开启」电流压降，「关闭」电流的漏电流，封装用IGBT测试仪，就可知道大功半导体有没有老化的现象。
?可移动型仪器，使用方便，测试简单快速，立即提供测试结果与数值。
?适用的半导体元件种类多，封装用IGBT测试仪批发，尤其能测大功率元件。
?用户能确实掌握新采购元件的质量，避免用到瑕疵或品。
?完全由计算机控制、快速的设定参数。
?适用于实验室和老化筛选的测试。
?操作非常简单、速度快。
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?优势行业：电力设备、地铁、铁路动力车组和运用大功率半导体器件进行设计、制造的行业。
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