目的和用途该设备用于功率半导体模块(IGBT、FRD、肖特基二极管等)的动态参数测试,以表征器件的动态特性,通过测试夹具的连接,实现模块的动态参数测试。三、华科智源IGBT测试仪系统特征: A:测量多种IGBT、MOS管 B:脉冲电流1200A,电压5KV,测试范围广。1.2 测试对象IGBT、FRD、肖特基二极管等功率半导体模块2.测试参数及指标2.1开关时间测试单元技术条件开通时间测试参数:1、开通时间ton:5~2000ns±3%±3ns2、开通延迟时间td(on):5~2000ns±3%±3ns3、上升时间tr:5~2000ns±3%±3ns4、开通能量: 0.2~1mJ±5%±0.01mJ1~50mJ±5%±0.1mJ 50~100mJ±5%±1mJ100~500mJ±5%±2mJ5、开通电流上升率di/dt测量范围:200-10000A/uS6、开通峰值功率Pon:10W~250kW
表格12动态参数测试部分组成
序号组成部分单位数量
1可调充电电源套1
2直流电容器个8
3动态测试负载电感套1
4安全工作区测试负载电感套1
5补充充电回路限流电感L个1
6短路保护放电回路套1
7正常放电回路套1
8高压大功率开关个5
9尖峰***电容个1
10主回路正向导通晶闸管个2
11动态测试续流二极管个2
12安全工作区测试续流二极管个3
13被测器件旁路开关个1
14工控机及操作系统套1
15数据采集与处理单元套1
16机柜及其面板套1
17压接夹具及其配套系统套1
18加热装置套1
19其他辅件套1
14)工控机及操作系统
用于控制及数据处理,轨道交通用IGBT测试仪,采用定制化系统,轨道交通用IGBT测试仪厂家,主要技术参数要求如下:
?机箱:4Μ 15槽上架式机箱;
?支持ATX母板;
?CPΜ:INTEL双核;
?主板:研华SIMB;
?硬盘:1TB;内存4G;
?3个5.25”和1个3.5”外部驱动器;
?集成VGA显示接口、4个PCI接口、6个串口、6个ΜSB接口等。
?西门子PLC逻辑控制
15)数据采集与处理单元
用于数据采集及数据处理,主要技术参数要求如下:
?示波器;高压探头:满足表格4-11动态参数、短路电流、安全工作区测试需求
?电流探头:满足表格4-11动态参数、短路电流、安全工作区测试需求
?状态监测:NI数据采集卡
?上位机:基于Labview人机界面
?数据提取:测试数据可存储为Excel文件及其他用户需要的任何数据格式,特别是动态测试波形可存储为数据格式;所检测数据可传递至上位机处理;从检测部分传输的数据经上位机处理后可自动列表显示相应测试数据;?数据处理和状态检测部分内容可扩展
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