欲测知元件老化,所须提供的测量范围为何?当大功率元件在作导通参数的测试时,电流必须大到其所能承受的正常工作值,大功率IGBT测试仪现货供应,同时,在作关闭参数的漏电流测试时,电压也必须够高,以元件在真正工作状态下的电流与电压,如此其老化的程度才可显现。当这两个参数通过后,便表示元件基本上良好,再进一步作其他参数的测量,以分辨其中的优劣。1)可调充电电压源用来给电容器充电,实现连续可调的直流母线电压,满足动态测试、短路电流的测试需求。建议进行高温测试,大功率IGBT测试仪批发,模拟器件使用工况,更为准确的判断器件老化程度。
测试参数多且完整、应用领域更广泛,但只要使用其基本的2项功能:「开启」电流压降,「关闭」电流的漏电流,就可知道大功半导体有没有老化的现象。
?可移动型仪器,使用方便,大功率IGBT测试仪厂家,测试简单快速,大功率IGBT测试仪,立即提供测试结果与数值。
?适用的半导体元件种类多,尤其能测大功率元件。
?用户能确实掌握新采购元件的质量,避免用到瑕疵或品。
?完全由计算机控制、快速的设定参数。
?适用于实验室和老化筛选的测试。
?操作非常简单、速度快。
?完全计算机自动判断、自动比对。
5、***负载
5.1 有效电感 L 100 200 500 1000 μH;
5.2 电流 Ic 1000 1000 1000 500 A;
外部电感成阵列的内部连接。(外部电感的H值传给PC,以计算电流源的极限,限制脉宽到1000us)。
6、标准的双控制极驱动
6.1 门极电阻可人工预先设定如:2.5Ω,5Ω,10Ω等;
6.2 开启(Trun-ON)输出电压 Vge+ : +15V;
6.3 关断(Trun-ON)输出电压 Vge- : -15V;
6.4 脉宽: 10 ~ 1000us (单脉冲、双脉冲总时间);
6.5 电压开关时间: < 50ns;
6.6 输出内阻: < 0.5Ω;
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