要通过控制主要原料硅砂的粒度范围来研究高应变点玻璃的熔制特性。通过金相显微镜和场发射扫描电子显微镜(SEM)分别测试样品中的气泡大小、成分的均匀性。通过对不同粒度硅砂配合料进行熔制过程的高温观察分析(HTO)，探讨硅砂的不同粒度对高应变点玻璃熔制行为和澄清时间的影响。研究结果表明，当硅砂粒度控制在100~150目时，样品的气泡含量少，成分较为均匀，熔制、澄清时间较短。
以上特征峰表明CD-CHOL与PAA-Azo在气液界面上通过主客体作用形成复合组装膜。图4CD-CHOL多层LB膜的红外光谱Fig．进而，滚圆机批发，对CD-CHOL多层LB膜进行XPS表征，如图5所示。图5CD-CHOL多层LB膜的XPS数据以及C1s分峰5(a)是CD-CHOL分别在纯水亚相、PAA-Azo亚相的多层膜的XPS数据，特征峰C1s、O1s、N1s的相对强度均有所不同。
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