为何老化的元件必须尽早发现及尽早更换？
当功率元件老化时，元件的内阻在导通时必定会加大，因而使温度升高，并使其效能降低。长期使用后若温升过高时，轨道交通用IGBT测试仪批发，会使元件在关闭时的漏电流急遽升高。电子电力产品生产、检修厂——应用本公司测试系统可对所应用到的半导体元器件，尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试、筛选、分析，以确保出厂产品的稳定性、可靠性。(因漏电流是以温度的二次方的曲线增加)，轨道交通用IGBT测试仪加工，进而使半导体的接口产生大量崩溃，而将此元件完全烧毁。当元件损毁时，会连带将其驱动电路上的元件或与其并联使用的功率元件一并损伤，所以，必须即早发现更换。
2.7测试夹具1、控制方式：气动控制2、控温范围：室温—150℃ 室温—125℃±1.0℃±3% 125—150℃±1.5℃±3%3、电源：交流50HZ，轨道交通用IGBT测试仪价格，220V，功率不大于1000W4、夹具能安装不同规格的适配器，以测试不同规格的器件，不同模块需要配备不同的适配器，设备出厂时配备62mm封装测试夹具、EconoPACK3封装测试夹具、34mm封装测试夹具各一套，但需甲方提供适配器对应器件的外形图；200~1000±2%±5ns tr、tf上升/下降时间 10～1000ns 10~200±2%±2ns。2.8环境要求环境温度：15～35℃相对湿度：小于70%大气压力：86Kpa～ 106Kpa压缩空气：不小于0.4MPa电网电压：AC220V±10%无严重谐波，三线制电网频率：50Hz±1Hz
3、系统基本参数
3.1 电 压 源：220VAC ±10% ，轨道交通用IGBT测试仪，50Hz/60Hz 20A RMS；
3.2 加热功能：室温～150℃；
3.3 测试功能：可测试IGBT模块及FRD；
3.4 环境温度：25℃±15℃；
3.5 环境湿度：50% ±20% （相对湿度）
4、动态测试基本配置
4.1 集电级电压 Vcc： 50 ~ 1000V；
4.2 集电极电流 Ic： 50 ~ 1000A ***负载；
4.3 电流持续时间 It： 10 ~ 1000 us 单个脉冲或双脉冲的总时间； 4.4 脉 冲 模 式： 单脉冲和双脉冲；
4.5 单电流脉冲的设置： Vcc，Ic， 电感值（自动计算脉宽）；
4.6 双电流脉冲的设置： Vcc， Ic， 电感值，间隙时间（10到50us）(脉宽自动计算)；
（开启Qrr测试：第二个脉宽＝间隙时间，10~50us）；
4.7 设备寄生电感 Lint: < 65nH（***动态测试）。
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