扫描电子显微镜（scanning electron microscope，简称扫描电镜/SEM）的基本组成是透射系统、电子系统、电子收集系统和观察记录系统，三维重构中心，以及相关的电子系统。现在公认的扫描电镜的概念是由德国的 Knoll在1935年提出来的，1938年Von Ardenne在投射电镜上加了个扫描线圈做出了扫描透射显微镜（SEM）。
由于扫描电镜可以利用多种物理信号对样品进行综合分析，并具有直接观察较大样品、放大范围广、景深大的特点，当陶瓷材料处于不同的外部条件和化学环境时，扫描电子显微镜在其微观结构分析和研究方面也显示出很大的优势。
不导电的样品有哪些特点?
总而言之，对于不导电的样品，如生物、纸张、橡胶、塑料、陶瓷等，除非使用环境台式扫描电镜或低真空模式的电镜或采用低的加速电压做分析，否则在传统电镜中进行图像观察和成分分析时若没有蒸镀导电层，则容易产生放电，造成图像漂移，热损伤等现象，使分析时难以***和聚焦。当入射的电子束能量较大时，那些不耐热或低熔点的样品在电子束的照射部位有可能产生起泡、灼伤甚至熔融。为了使样品表面能有良好的导电性和散热功能，一定在样品表面蒸镀一层导电膜层。
纳米材料容易团聚是由于纳米材料本身尺寸原因产生的特性，唐山三维重构，是做功能性材料遇到的常见问题，其根本方法是在样品实验室制备过程中通过调整参数进行解决的。不同样品可能分散性会有所不同，但工程师会根据其丰富的经验将样品分散到状态来进行制样和测试。但无法保证每个样品都能达到使客户满意的状态。所以请尽可能在委托协议里写明分散溶剂和具体超声时间。如果客户对分散性要求特别高，建议自己制样，毕竟自己的样品自己了解。否则请接受工程师的测试结果。
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