不同粒度硅砂对高应变点玻璃熔制质量的分析图1和图2分别为不同粒度硅砂配合料熔制(熔制温度1400℃)的高应变点玻璃样品的显微镜图像和样品未熔物及气泡分析图。从图1和图2中可明显看出，未筛分的硅砂熔制出的高应变点玻璃样品中的未熔物，筛分后的硅砂熔制出的玻璃样品随硅砂目数的增大，未熔物逐渐减少，而气泡数量呈逐渐增多的趋势。
以上特征峰表明CD-CHOL与PAA-Azo在气液界面上通过主客体作用形成复合组装膜。图4CD-CHOL多层LB膜的红外光谱Fig．进而，滚圆机，对CD-CHOL多层LB膜进行XPS表征，如图5所示。图5CD-CHOL多层LB膜的XPS数据以及C1s分峰5(a)是CD-CHOL分别在纯水亚相、PAA-Azo亚相的多层膜的XPS数据，特征峰C1s、O1s、N1s的相对强度均有所不同。
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