扫描电子显微镜（scanning electron microscope，透射电镜测试机构，简称扫描电镜/SEM）的基本组成是透射系统、电子系统、电子收集系统和观察记录系统，以及相关的电子系统。现在公认的扫描电镜的概念是由德国的 Knoll在1935年提出来的，1938年Von Ardenne在投射电镜上加了个扫描线圈做出了扫描透射显微镜（SEM）。
由于扫描电镜可以利用多种物理信号对样品进行综合分析，并具有直接观察较大样品、放大范围广、景深大的特点，当陶瓷材料处于不同的外部条件和化学环境时，扫描电子显微镜在其微观结构分析和研究方面也显示出很大的优势。
库尔特原理(亦称:电阻法、电脉冲法)
库尔特原理（亦称:电阻法、电脉冲法）:悬浮在电解液中的颗粒随电解液通过小孔时，取代相同体积的电解液，在恒电流设计的电路中导致小孔管内外两电极间电阻发生瞬时变化，产生电位脉冲。脉冲信号的大小和次数与颗粒的大小和数目成正比。库尔特原理属于对颗粒个体的测量和三维的测量，不但能准确测量物料的粒径分布，透射电镜测试价格，更能作粒子数目和浓度的测量。其所测粒径更接近真实，而且不象激光衍射散射原理受物料的颜色和浓度的影响。
透射电子显微镜常用于观察普通显微镜无法分辨的精细材料结构，临沧透射电镜测试，扫描电子显微镜主要用于观察固体表面形貌，也可与X射线衍射仪或电子能谱仪结合形成电子。微探针用于材料成分分析，发射电子显微镜用于研究自发射电子表面。扫描电镜价格只是购买产品或服务过程中的一项指标，如果单纯只比较价格，其实考虑并不是那么周到。价格、质量、服务、口碑、是否合适自己的情况等都需要一起考虑。
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