






扫描电子显微镜SEM 基本参数
放大率:通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到
场深:扫描电子显微镜SEM中,位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深,通常为几纳米厚,所以,SEM可以用于纳米级样品的三维成像。
工作距离:工作距离指从物镜到样品高点的垂直距离。如果增加工作距离,可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。 如果减少工作距离,则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。
台式扫描电子显微镜采用高集成度电子光学系统设计和附件集成方案
台式扫描电子显微镜采用高集成度电子光学系统设计和附件集成方案,使拍摄图片具有更高的信噪比和对比度,同时也具有更强的抗干扰能力。
配合很高的信号采集带宽,可以在视频帧率下高质量的流畅显示样品。只需鼠标就可完成所有操作,无需光阑对中等复杂步骤。主机集成高压及控制系统,是目前市面上体积较小的扫描电镜,便于移动,电镜分析机构,安装无需特殊环境。
该产品使得扫描电镜不仅仅是“便宜电镜”的代名词,而是从集成度、易操作性、稳定性、抗干扰能力等角度出发,打造好用的台式扫描电镜。
这些不同细节的部位发出的二次电子数各不相同,从而产生亮暗不一的衬度。由于二次电子的能量小,青岛电镜分析,用 E-T探测器检测时,电镜分析哪家好,仅需在其前面的栅网上加几百伏的正电位,电镜分析中心,常施加的电位为+250~+300V,即通过该电位就可把试样上发射出来的大部分二次电子吸引过来,所以二次电子像的阴影效应不明显。在二次电子探测器所对应的立体角内也能接收到相应的一小部分背散射电子,所以在二次电子像中也包含了一小部分背散射电子的信息,如图b中对应的背散射电子成分像的一些衬度信息也能在图a中反映出来,只不过图a中所显现的原子序数的衬度没有像图b中那么明显而已。
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