北京zeiss蔡司三坐标-北京一测有限公司

蔡司三坐标测量机

接触式测头与光学测头

近年来流行着一些带有误导性的宣传，导致部分用户对光学测头有过高的期待，北京zeiss蔡司三坐标，例如“用光学测头一扫，零件的所有尺寸都出来了”等等，这对光学测头实际上存在很大的误解。从目前的状态来说，接触式与光学测头之间主要是相互补充的关系，而非竞争。三维光学测头有不同的分类，比如点光源、线光源、面光源，不同的测头其应用场合有显著区别。我们将光学测头的应用大致分成两类：表面数字化和三维测量。

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对于表面数字化，其目的是要获取零件表面轮廓，这就需要大量获取轮廓的空间点坐标。而对于接触式测头来说，一个一个点逐次获取的方式是无法胜任百万数量级点数的要求的，zeiss蔡司三坐标报价，哪怕是连续扫描测头，zeiss蔡司三坐标价格，也只是通过测头不离开零件表面的方式来提高取点速度，本质上还是单点采集。这类应用当中，线光源和面光源测头就很好弥补了接触式测头的不足，线扫描测头通过一条由若干点的激光在工件表面移动，zeiss蔡司三坐标多少钱，即可扫描出一片区域;而面拍照测头则是通过一组编码的光线栅格，一次性获取一个特定大小区域内的点云。

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三坐标测头对于不同的工件，通常使用不同直径和长度的探针。并且对于复杂的工件可能使用多个测头角度来完成测量。在测量过程中，往往要通过不同测头角度、长度和直径不同的探针组合测量元素。不同位置的测量点必须要经过转化才能在同一坐标下计算，这就需要测头校验得出不同测头角度之间的位置关系才能进行准确换算。