




注意事项根据我公司长时间对抛光工艺的摸索与实践,光亮剂在抛光液中几乎消耗相当细微,因此时视具体的情况配比补加光亮剂,新配抛光溶液抛光时间要短;温度偏高时,抛光时间要短些,若抛光2min以上仍不光亮时,两酸抛光配方,可观察抛光时液面泡沫的多少,酌情添加光亮剂,泡沫少时可按适当比例添加部份光亮剂,泡沫多时只要按比例加入磷酸和***即可。生产一段时间后的溶液呈乳白色且粘度大,所以化学抛光后的产品需要反复清洗,否则酸液残留于工件表面将会导致表面产生白霜点。
极氧化铝板化学抛光中出现的缺陷及其纠正措施是在生产的发展过程中不断总结完善的。白色附着物。该缺陷的形貌为化学抛光后的铝材表面上附着有一层白色的沉积物,两酸抛光 公司,且分布不均匀,附着物底部的铝材表面有可能被腐蚀。通常,该缺陷是因为化学抛光槽液中溶铝量太高所致,如果化学抛光槽液的相对密度在1.80以上,两酸抛光工艺,可以得到进一步证实。则需采取措施调整槽液中的溶铝量到正常的范围内。
CMP技术的概念是1965年由Manto提出。该技术是用于获取高质量的玻璃表面,如望远镜等。1988年IBM开始将CMP技术运用于4MDRAM 的制造中,而自从1991年IBM将CMP成功应用到64MDRAM 的生产中以后,CMP技术在世界各地迅速发展起来。区别于传统的纯机械或纯化学的抛光方法,两酸抛光,CMP通过化学的和机械的综合作用,从而避免了由单纯机械抛光造成的表面损伤和由单纯化学抛光易造成的抛光速度慢、表面平整度和抛光一致性差等缺点。它利用了磨损中的“软磨硬”原理,即用较软的材料来进行抛光以实现高质量的表面抛光。
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