不过随着科技的演进，电路板的尺寸也越来越小，小小地电路板上面光要挤下这么多的电子零件都已经有些吃力了，所以测试点占用电路板空间的问题，经 常在设计端与制造端之间拔河，不过这个议题等以后有机会再来谈。测试点的外观通常是圆形，因为探针也是圆形，AIS20X报价，比较好生产，也比较容易让相邻探针靠得近一点，这样才可以增加针床的植针密度。镭晨科技以技术创新为，致力于做好用的AOI。研发技术人员占比70%，专注于人工智能、视觉领域10余年，并取得了重大突破，用AI赋能工业检测，将深度学习算法应用到AOI，为企业提供高检出、低误报、易编程的光学检测方案。
其实经过波峰焊的测试点也会有探针接触不良的问题。后来***T盛行之后 ，测试误判的情形就得到了很大的改善，测试点的应
用也被大大地赋予重任，因为***T的零件通常很脆弱，平顶山AIS20X，无法承受测试探针的直接接触压力， 使用测试点就可以不用让探针直接
接触到零件及其焊脚，不但保护零件不受伤害，也间接大大地提升测试的可靠度，因为误判的情形变少了。
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